CWE-990

SFPセカンダリークラスター：コマンドへの汚染された入力

SFP Secondary Cluster: Tainted Input to Command

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日本語説明

このカテゴリは、Tainted Input to Commandクラスタ（SFP24）内のソフトウェア障害パターン（SFP）を識別します。

原文 (English)

This category identifies Software Fault Patterns (SFPs) within the Tainted Input to Command cluster (SFP24).

想定される影響

不明

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